太阳能晶片的掺杂方法以及掺杂晶片专利登记公告
专利名称:太阳能晶片的掺杂方法以及掺杂晶片
摘要:本发明公开了一种太阳能晶片的掺杂方法包括以下步骤:步骤S1、在N型基底表面形成P+型掺杂层;步骤S2、在该P+型掺杂层表面形成一保护薄膜;步骤S3、蚀刻该保护薄膜、该P+型掺杂层和该N型基底以在该N型基底中形成一凹槽;步骤S4、加速N型离子并通过离子注入的方式将该N型离子从该凹槽注入至N型基底中以形成N+型掺杂区域,其中,该N+型掺杂区域与该未经蚀刻的P+型掺杂层互不接触;步骤S5、去除该保护薄膜,其中,所述的P型替换为N型时,N型同时替换为P型。本发明还公开了一种掺杂晶片。本发明的掺杂方法简化了工艺步骤
专利类型:发明专利
专利号:CN201010598959.1
专利申请(专利权)人:上海凯世通半导体有限公司
专利发明(设计)人:陈炯;钱锋;洪俊华
主权项:一种太阳能晶片的掺杂方法,其特征在于,其包括以下步骤:步骤S1、在N型基底表面中形成P+型掺杂层;步骤S2、在该P+型掺杂层表面形成一保护薄膜;步骤S3、蚀刻该保护薄膜、该P+型掺杂层以及该N型基底以在该N型基底中形成一凹槽;步骤S4、在N型基底的凹槽表面中形成N+型掺杂区域,其中,该N+型掺杂区域与该未经蚀刻的P+型掺杂层互不接触;步骤S5、去除该保护薄膜,其中,所述的P型替换为N型时,N型同时替换为P型。
专利地区:上海
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