利用加速试验来评价电容器贮存寿命的方法专利登记公告
专利名称:利用加速试验来评价电容器贮存寿命的方法
摘要:本发明提供一种利用加速试验来评价电容器贮存寿命的方法,包括1)在被评价电容器中抽取一定数量样本,给每只电容器编号后测量并记录被测电容器的电容值,后随机分为若干组;2)取其中一组进行室温贮存试验,间隔一定时间取出一批样品测试并记录贮存后的电容值变化,得到室温贮存电容随时间变化曲线;步骤3)在不同温度下进行贮存试验,通过摸底试验确定合适的温度作为加速应力;4)在步骤3)确定的合适的较高温度下进行贮存试验,与步骤2)一样间隔一定时间测试并记录贮存后的电容值变化,得到高温下的贮存电容随时间变化曲线;5)利用曲线拟
专利类型:发明专利
专利号:CN201210021861.9
专利申请(专利权)人:中国航天标准化研究所
专利发明(设计)人:刘文宝
主权项:一种利用加速试验来评价电容器贮存寿命的方法,包括以下步骤:1)在被评价的电容器组中抽取一定数量的被测电容器,给每只被测电容器编号后测量并记录被测电容器的平均初始电容值C0,然后再随机分为10组;2)从所述10组电容器中取出第一组电容器进行室温下的贮存试验,间隔一定时间取出L个电容器进行测试并记录贮存后的平均电容值C1,直至全部电容器都取出并测量后为止,计算出贮存后的电容值相对于初始电容值的电容值变化量ΔC1,得到室温下电容值随时间变化的贮存寿命前期数据曲线;3)从所述10组电容器中取出第二组电容器,在高于
专利地区:北京
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