一种基于动态光散射信号分形的颗粒测量装置专利登记公告

专利名称：一种基于动态光散射信号分形的颗粒测量装置

摘要：本实用新型涉及一种基于动态光散射信号分形的颗粒测量装置，它由激光器、偏振片、透镜、样品池、小孔、滤光片、光探测器、光子计数卡和微机组成。由激光器、偏振片和透镜组成的入射光路产生聚焦的偏振光束照射到颗粒样品池中，样品池中的颗粒产生的散射光经小孔、滤光片进入光探测器，将散射光信号转换成TTL脉冲信号，由光子计数卡将脉冲信号读入微机内存，计算出所测信号的分形维数，根据分形维数与颗粒粒径的对应关系求出粒径。本实用新型的优点是：成本低、测量速度快，可在线应用。

专利类型：实用新型专利

专利号：CN02261719.1

专利申请（专利权）人：上海理工大学

专利发明（设计）人：郑刚;申晋

主权项：1、一种基于动态光散射信号分形的颗粒测量装置，其特征在于，它由激光器(1)、偏振片(2)、透镜(3)、样品池(4)、小孔A(5)、小孔B(6)、滤光片(7)、光探测器(8)、光子计数卡(9)和微机(10)组成，由激光器(1)、偏振片(2)、透镜(3)组成入射光路，由样品池(4)、小孔A(5)、小孔B(5)、滤光片(7)组成散射光路，由光探测器(8)、光子计数卡(9)和微机(10)组成动态散射光信号采集与处理单元。

专利地区：上海