多点测试的全光纤速度干涉装置专利登记公告

专利名称：多点测试的全光纤速度干涉装置

摘要：本实用新型是一种多点测试的全光纤速度干涉装置。现有技术中尚未有类似装置报道。本实用新型是一种多点测试的全光纤速度干涉装置，主要由激光器、全光纤干涉装置、光纤延迟线和数据处理部分组成。其中全光纤干涉装置由三只2×2光纤耦合器组成，也可由一只2×2、一只3×3光纤耦合器组成。激光经过耦合器分光、差频干涉后，产生稳定的干涉条纹，经探测器光电转换后，分析干涉曲线，不同测试点对应的速度剖面曲线。本实用新型利用了光纤延迟线构件时分复用结构，在不增加探测信号检测设备的条件下，实现了多套单点测试全光纤速度干涉仪才能实现的多点测试功能。本实用新型结构简捷，反演速度剖面曲线方便，测量精度高。

专利类型：实用新型专利

专利号：CN02266071.2

专利申请（专利权）人：复旦大学

专利发明（设计）人：贾波

主权项：1、一种多点测试的全光纤速度干涉装置，由激光器、全光纤干涉装置、光纤延迟线、数据处理等部份组成，其特征是按光路装置是如下结构：激光器(8)发出的光经耦合器I(9)，由(1)进入耦合器II(10)，再进入耦合器III(12)，其后是光纤准直器(13)，被测试样品(7)反射，另一路光经光纤延迟线(15)、光纤准直器(14)，被测试样品(7)反射，在光纤准直器(13)、(14)与光纤耦合器(12)之间是光纤耦合器或光纤延迟线；反射光的光路依次是经耦合器III、耦合器II、耦合器I，在耦合器II的(2)端和耦合器

专利地区：上海