一种集成电路性能测量及电路实验装置专利登记公告

专利名称：一种集成电路性能测量及电路实验装置

摘要：本实用新型涉及集成电路性能测量、试验技术，尤其是一种集成电路性能测量及电路实验装置。包括：基板，其上设有多个固定孔，上表面均设至少2个固定导槽；至少1块用于接插集成块和电子元件的母板，其上设有印刷线路用即导体；至少2个用于固定母板的固定块，插装在所述固定导槽里、并同时将母板安装在基板上、于固定导槽之间；至少1个固定条，通过固定孔安装在基板上，用于固定整体结构。在基板上灵活方便地组合母板，使用本实用新型能安全、方便、快速地用集成块和电子元件搭建测量和实验电路，以对各种型号和形状的(尤其贴片式)集成电路进行各种性能的测量和试验。

专利类型：实用新型专利

专利号：CN02280449.8

专利申请（专利权）人：中国科学院海洋研究所

专利发明（设计）人：龚德俊;朱素兰;李思忍;徐永平;于新生

主权项：1.一种集成电路性能测量及电路实验装置，其特征在于包括：基板(1)，其上设有多个固定孔(6)，上表面均设至少2个固定导槽；至少1块用于接插集成块和电子元件的母板(3)，其上设有印刷线路即导体(4)；至少2个用于固定母板(3)的固定块(2)，插装在所述固定导槽里、并同时将母板(3)安装在基板(1)上、于固定导槽之间；至少1个固定条(7)，通过固定孔(6)安装在基板(1)上，用于固定整体结构。

专利地区：山东