对组合样品的结构和成分进行测量分析的装置专利登记公告

专利名称：对组合样品的结构和成分进行测量分析的装置

摘要：本实用新型是一种对组合样品的结构和成分进行测量分析的装置，它涉及利用X射线衍射、X射线荧光技术对结构和成分进行测量分析的装置。X射线源1、X射线透镜3、样品台7及其控制电路、能量探测器9及其测量电路等均置于仪器平台13上，X射线源与X射线透镜形成入射光路，能量探测器位于衍射光路上。将X射线源发出的发散白光X射线通过X射线透镜聚焦成准平行的微会聚束照射到样品台上，平移样品台使被测样品6位于该焦点，然后用能量探测器接收从被测样品上衍射的X射线和发射的荧光X射线，再传输到计算机12中进行数据处理，得到衍射谱和荧光光谱，从而分析出结构和成分。本实用新型操作简单，测量速度较快，能够适用于各种组合样品。

专利类型：实用新型专利

专利号：CN02286529.2

专利申请（专利权）人：中国科学技术大学

专利发明（设计）人：高琛;罗震林

主权项：1、一种对组合样品的结构和成分进行测量分析的装置，其特征为：包括X射线源(1)、X射线透镜(3)、样品台(7)及其控制电路、能量探测器(9)及其测量电路、计算机(12)、仪器平台(13)；计算机通过连线分别与样品台及其控制电路、能量探测器及其测量电路相连，X射线源、X射线透镜、样品台及其控制电路、能量探测器及其测量电路均置于仪器平台上，X射线源与X射线透镜位于同一光轴上、形成入射光路，能量探测器位于衍射光路上；所述X射线源为发散白光X射线光源，X射线透镜为毛细管束微会聚透镜，能量探测器为固体探测器，样品台

专利地区：安徽