X射线荧光分析仪(EDX7618)专利登记公告
专利名称：X射线荧光分析仪(EDX7618)
摘要：
专利类型：外观专利
专利号：CN200830195206.X
专利申请（专利权）人：昆山善思光电科技有限公司
专利发明（设计）人：林毅宁
主权项：
专利地区：江苏
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