基于表面几何特性的结构光重建颜色校正方法专利登记公告

专利名称：基于表面几何特性的结构光重建颜色校正方法

摘要：基于表面几何特性的结构光重建颜色校正方法，本发明涉及结构光颜色信息重建过程中的一种颜色校正方法。其步骤是：(a)利用结构光系统获取被测表面采样点的三维数据和颜色数据，依次将每个采样点作为中心采样点，根据中心采样点和其邻域内多个采样点的三维数据拟合空间曲面，在其上过中心采样点作切面。(b)以切面表征表面局部几何特性，针对切面作入射光强分析和反射光强分析，计算出中心采样点的颜色校正系数。(c)利用各中心采样点的颜色校正系数校正颜色数据。本方法在结构光系统获取三维数据和颜色数据的基础上，直接根据三维数据分析表面

专利类型：发明专利

专利号：CN200910072496.2

专利申请（专利权）人：哈尔滨理工大学

专利发明（设计）人：吴海滨;于晓洋;王洋

主权项：一种基于表面几何特性的结构光重建颜色校正方法，其特征是：该方法包括步骤：(1)利用结构光系统获取被测表面采样点的三维数据和颜色数据，依次将每个采样点作为中心采样点，根据中心采样点和其邻域内多个采样点的三维数据拟合空间曲面，在空间曲面上过中心采样点作切面；(2)以切面表征被测表面局部几何特性，针对切面作入射光强分析和反射光强分析，进而计算出中心采样点的颜色校正系数；(3)利用各中心采样点的颜色校正系数校正其颜色数据。

专利地区：黑龙江