电阻性存储元件的双回路检测方案专利登记公告

专利名称：电阻性存储元件的双回路检测方案

摘要：检测电阻性存储元件的电阻状态的方法和装置包括产生与存储单元的电阻相关的第一电流。在第一检测时间期间把所述第一电流加到第二电流，并且在第二检测时间期间从第三电流减去所述第一电流。利用电容器对所述第一、第二和第三电流进行时间积分，并且利用时钟控制的计数器对所述电容器上的结果电压信号进行计时。然后，使时钟控制的计数器的数字输出的时间平均值与存储单元的电阻相关，从而与电阻性存储元件的电阻状态相关。

专利类型：发明专利

专利号：CN200910208891.9

专利申请（专利权）人：微米技术有限公司

专利发明（设计）人：R·J·贝克

主权项：一种检测存储单元的逻辑状态的方法，所述方法包括：将计数器的计数值预置为预置计数值；利用充电电流在第一多个时间间隔期间对电容器充电，所述第一多个时间间隔的每一个时间间隔期间时间间隔当对所述电容器的周期检测表示其上的第一电压已超过阈电压时被终止；在第二多个时间间隔期间利用放电电流将所述电容器放电，所述第二多个时间间隔的每一个时间间隔期间时间间隔当对所述电容器的周期检测表示其上的第二电压已低于所述阈电压时被终止；利用另外的电流补充所述的充电和放电电流，所述另外的电流将延长一个或多个所述第二多个时间间隔期间的时间

专利地区：美国