相位激光测距仪及激光测距方法专利登记公告

专利名称：相位激光测距仪及激光测距方法

摘要：本发明所提供相位激光测距仪的光路部分可以采用含有双反射镜结构或无双反射镜结构，采用单片机技术自动给出测量结果，包括针对整波长个数部分的搜索处理和针对非整波长部分的相位差检测处理。本发明结构简单，集成度高，可以做成便于携带使用的手持式相位激光测距仪产品，能减轻人们的劳动强度，提高工作效率，同时应用其进行测量具有非接触、精度高、测程远、测速快的优点。

专利类型：发明专利

专利号：CN200910272947.7

专利申请（专利权）人：武汉大学

专利发明（设计）人：许贤泽;于涛

主权项：一种相位激光测距仪，其特征在于：包括光路部份和电路部份，光路部分采用双反射镜结构或无双反射镜结构，所述双反射镜结构包括有激光发射器、挡板反射器、双反射镜、物镜、凹面反射器、滤光片及探测器，其中挡板反射器置于激光发射器前方，双反射镜、物镜、凹面反射器及滤光片依次置于探测器前方，凹面反射器与挡板反射器位置相应；内光路测量时，激光发射器发出激光，照射到挡板反射器上，再反射到凹面反射器上，再经过滤光片后照射到探测器上，形成内光路；外光路测量时，挡板反射器放下，激光发射器发出激光，发射到双反射镜上，再照射到被测目标

专利地区：湖北