内存测试方法专利登记公告

专利名称：内存测试方法

摘要：本发明提供一种内存测试方法，该方法包括：对内存进行简单数据读写测试；对该内存的数据总线走1/0测试；对该内存的地址总线走1/0测试；及对该内存的随机数据块进行读写测试。本发明提供了一种严谨、全面的内存测试方法。

专利类型：发明专利

专利号：CN200910300486.X

专利申请（专利权）人：鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司

专利发明（设计）人：童默颖;洪学文;唐庆宗

主权项：一种内存测试方法，包括数据总线走1/0测试及地址总线走1/0测试，其特征在于，在数据总线走1/0测试及地址总线走1/0测试之前，该方法还包括：简单读写测试，包括：a)获取多个未被占用的内存物理地址；b)选择上述其中一个物理地址，向该物理地址所对应的存储空间中写入一个数据；c)将该写入的数据读出；d)判断写入的及读出的数据是否相同；e)若两笔数据不相同，则判定该物理地址所对应的存储空间有问题；f)若两笔数据相同，则进一步判断上述获取的物理地址是否已经全部测试完毕；g)若所获取的物理地址没有全部测试完毕，则返

专利地区：广东