一种可控温焦面探测器机构专利登记公告

专利名称：一种可控温焦面探测器机构

摘要：一种可控温焦面探测器机构，主要解决了现有焦面探测器机构无法满足在不同温度条件下工作的问题。该可控温焦面探测器机构包括壳体、机箱、探测器和探测器安装座，探测器安装座包括探测器支撑板和冷板，探测器支撑板与机箱固定连接，探测器设置于冷板一侧，探测器上设置有温度测试传感器；冷板另一侧设置有制冷器，制冷器远离冷板一侧设置有导热装置，所述导热装置和冷板将制冷器隔离密封。该可控温焦面探测器机构可以实现探测器的不同工作温度需求，探测器在各种环境(实验室或空间环境)工作时，不受结霜和污染影响，有效减小环境漏热量。

专利类型：发明专利

专利号：CN200910311020.X

专利申请（专利权）人：中国科学院西安光学精密机械研究所

专利发明（设计）人：杨文刚;解永杰;樊学武;凤良杰;汶德胜

主权项：一种可控温焦面探测器机构，包括壳体(1)、机箱(2)、探测器(3)和探测器安装座(4)，所述机箱(2)固定设置于壳体(1)内，机箱(2)的进光口上设置有与探测器观测位置对应的透明观测窗(7)，其特征在于：所述探测器3和探测器安装座(4)设置于机箱(2)内，其特征在于：所述探测器安装座(4)包括探测器支撑板(41)和冷板(42)，探测器支撑板(41)与机箱(2)固定连接；所述探测器(3)设置于冷板(42)一侧，探测器(3)上设置有温度测试传感器；所述冷板(42)另一侧设置有制冷器(10)；所述制冷器(10)

专利地区：陕西