校准反射密度仪专利登记公告

专利名称：校准反射密度仪

摘要：印刷机设备100包括反射密度仪102，反射密度仪102包括光传感器104和处理器106，光传感器104在一系列的测量中检测从每个页面上的每个颜色片所反射的光，处理器106连接至光学传感器104并管理校准和测量运算。所述处理器106确定所述照明的光泽分量的大小，并比较来自所选不同油墨覆盖率处的多个测量结果的光泽分量的大小。

专利类型：发明专利

专利号：CN200980161523.1

专利申请（专利权）人：惠普发展公司，有限责任合伙企业

专利发明（设计）人：威廉·D·霍兰

主权项：一种印刷机设备100，包括：反射密度仪102，包括：光学传感器104，在一系列测量中检测从页面上的一片反射的光；以及处理器106，连接到所述光学传感器104，所述处理器106确定所反射的光的光泽分量的大小，并比较来自所选不同油墨覆盖率处的多个测量结果的光泽分量的大小。

专利地区：美国