用于热控涂层性能原位测试的辐射计专利登记公告

专利名称：用于热控涂层性能原位测试的辐射计

摘要：用于热控涂层性能原位测试的辐射计由测热腔、试件板、热探测器、试件板支杆、测热腔支杆、隔热腔和数据采集底座组成，其中测热腔为辐射计的测试部分，由测热腔支杆支撑置于隔热腔内部；试件板表面涂有待测热控涂层，由试件板支杆支撑置于测热腔内部；热探测器为薄膜热探测器，分别置于试件板的下面和测热腔底部；隔热腔用于阻止空间辐照对测热腔内部的热扰动；数据采集底座内置信号采集板卡。热控涂层接受模拟空间环境的辐照后，由热探测器探测温度的变化，根据温度的变化得到通过涂层热通量的变化，再由热通量的变化计算得到涂层性能的变化。本发明

专利类型：发明专利

专利号：CN201010107445.1

专利申请（专利权）人：北京航空航天大学

专利发明（设计）人：赵慧洁;邢辉;张颖;王立;张庆祥;唐吾

主权项：用于热控涂层性能原位测试的辐射计，其特征在于：包括测热腔(1)、试件板(2)、热探测器(3)、试件板支杆(4)、测热腔支杆(5)、隔热腔(6)、数据采集底座(7)，其中测热腔(1)为辐射计的测试部分，由测热腔支杆(5)支撑置于隔热腔(6)内部；试件板(2)表面涂有待测热控涂层，由试件板支杆(4)支撑置于测热腔(1)内部；热探测器(3)分别置于试件板(2)的下面和测热腔(1)底部；隔热腔(6)作为外壳包围着测热腔(1)并固定于数据采集底座(7)上端；数据采集底座(7)内置信号采集板卡；热控涂层接受模拟空间环

专利地区：北京