电容测量电路专利登记公告

专利名称：电容测量电路

摘要：本发明公开一种电容测量电路，本发明的电容测量电路中，与外部电容接触的衬垫设置在反馈回路内部，并且，随着依次增加电容值，通过衬垫传递的噪声影响减小，因此，能够测量出正确的电容值。并且，由于周期性检测接触的电容，从而能够消除噪声的影响，并具有数字滤波器而能够获得稳定的电容值。

专利类型：发明专利

专利号：CN201010118229.7

专利申请（专利权）人：艾勒博科技股份有限公司

专利发明（设计）人：文炳埈;韩相润;洪在锡;郑德暎

主权项：一种电容测量电路，其特征在于包括：测量信号发生部，以用于发生测量信号；固定延迟链，以用于使所述测量信号延迟对应于基准延迟值的时间而输出；可变延迟链，以用于使所述测量信号延迟对应于代码值的时间而输出；第一延迟部，以用于使所述固定延迟链的输出信号延迟固定时间而输出基准信号；具有与外部电容接触的衬垫的第二延迟部，以用于响应通过所述衬垫接触的电容而将所述可变延迟链的输出信号变化并延迟而输出检测信号；数据发生部，以用于响应所述基准信号和所述传感信号的延迟时间差而使所述电容值增加或减小之后输出，并响应所述电容值而变更

专利地区：韩国