用于合成孔径雷达前斜视子孔径成像处理的扩展非线性变标方法专利登记公告

专利名称：用于合成孔径雷达前斜视子孔径成像处理的扩展非线性变标方法

摘要：本发明公开了一种适用于合成孔径雷达前斜视成像处理的扩展非线性变标方法，属于合成孔径雷达的成像技术领域；该方法对合成孔径雷达在前斜视情况下获取的子孔径回波数据首先采用非线性变标方法进行距离向处理，采用三阶模型描述回波信号在距离-多普勒域的相位特性，并补偿距离向调频率的变化，从而实现距离向聚焦；然后采用频谱分析方法进行方位向处理，实现合成孔径雷达前斜视子孔径成像，且成像一致性好，降低了成像处理的计算量。

专利类型：发明专利

专利号：CN201010133565.9

专利申请（专利权）人：北京航空航天大学

专利发明（设计）人：于泽;张岩;李洲;李春升

主权项：一种用于合成孔径雷达前斜视子孔径成像处理的扩展非线性变标方法，其特征在于扩展非线性变标方法包括有下列处理步骤：第一步：信号处理系统对回波信号EC进行方位向傅里叶变换处理，获得距离时域-多普勒域的第一信号EA；然后对EA进行距离向傅里叶变换处理，获得距离频域-多普勒域的第二信号EB；第二步：采用二维频域第一关系Ф1(h，f)对EB进行相位补偿，得到补偿后的距离频域-多普勒域的第三信号ED＝EB·Ф1(h，f)；所述的二维频域第一关系 Φ

专利地区：北京