基于统计学及遍历性理论的判断多相混合均匀性的方法专利登记公告

专利名称：基于统计学及遍历性理论的判断多相混合均匀性的方法

摘要：本发明公开了一种基于统计学及遍历性理论的判断多相混合均匀性的方法。具体是：(1)在混合过程中放入搅拌槽内一个示踪颗粒作为研究对象；(2)利用电子断层等成像技术来获得任一个断层的连续的搅拌实时图样；(3)根据断层面的尺寸大小，将获得的多相混合过程中该断层的连续的搅拌实时图样进行网格划分；(4)运用统计学的方法计算示踪颗粒在一定时间内经过1～n个区域中每一个区域的次数，然后根据穿过1～n个区域的总次数计算该示踪颗粒穿过每一个区域中的概率P；(5)借助混合遍历性理论，得出多相混合在t时刻之后达到混合均匀的状态。

专利类型：发明专利

专利号：CN201010140233.3

专利申请（专利权）人：昆明理工大学

专利发明（设计）人：朱道飞;王华;徐建新;王仕博;孙辉

主权项：一种判断多相混合均匀性的方法，其特征在于：该方法采用统计学及遍历性理论来判断多相混合均匀性，具体步骤为：(1)在混合过程中放入搅拌槽内一个区别于周围其它物质且不跟任何物质发生化学反应的示踪颗粒作为研究对象；(2)利用电子断层成像技术EPT，来获得多相混合过程中任一个断层的连续的搅拌实时图样；(3)根据断层面的尺寸大小，将获得的多相混合过程中该断层的连续的搅拌实时图样进行网格划分，一般划分为n2个区域，n为自然数，并对其编号1～n；(4)运用统计学的方法计算示踪颗粒在一定时间内经过1～n个区域中每一个区域的

专利地区：云南