一种标定光轴上的点在CCD上成像位置的方法专利登记公告

专利名称：一种标定光轴上的点在CCD上成像位置的方法

摘要：本发明标定光轴上的点在CCD上成像位置的方法属于光电测量技术领域，该方法包括如下步骤：把光学测量系统放在带有导轨的平台上，并调平平台、测量系统和目标架，固定目标架；分别给目标架和测量系统上电，设定光轴上的点在CCD上成像位置为W；把测量系统移到平台的位置一，控制测量系统对目标架进行测量，得到的测量Z值为Z1，Z为测量系统光轴与目标架上两目标点连线中点的高度差；把测量系统移到平台的位置二，控制测量系统对目标架进行测量，得到的测量Z值为Z2；比较Z1和Z2，若Z1、Z2不相等，则重新设定W的位置，然后重复测量

专利类型：发明专利

专利号：CN201010144784.7

专利申请（专利权）人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

专利发明（设计）人：李建荣;王志乾;赵雁;刘畅;沈铖武;耿天文;刘绍锦

主权项：一种标定光轴上的点在CCD上成像位置的方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：1)把光学测量系统放在带有导轨的平台上，并对平台调平；2)调平光学测量系统，调平目标架，并且固定目标架；3)分别给目标架和光学测量系统上电，设定光轴上的点在CCD上的成像位置为W；4)把光学测量系统移动到平台的位置一，控制光学测量系统对目标架进行测量，得到的测量Z值为Z1，其中，Z为光学测量系统光轴与目标架上两目标点连线中点的高度差；5)把光学测量系统移动到平台的位置二，控制光学测量系统对目标架进行测量，得到的测量Z值为Z2；6)

专利地区：吉林