一种LED芯片全景扫描匹配方法专利登记公告

专利名称：一种LED芯片全景扫描匹配方法

摘要：一种LED芯片全景扫描匹配方法，包括：(1)检测设备对晶圆表面进行扫描并检测；(2)晶圆移送到分选设备；(3)分选设备对晶圆表面的LED芯片进行分选。步骤(1)包括：参数设置、扫描、拼接和去重，获得LED芯片位置与其参数信息的对照表RelationSheet1。步骤(3)包括：(31)分选设备对晶圆进行查找，获得LED芯片与其位置的对照表RelationSheet2；(32)将表RelationSheet1中的LED芯片的参数信息与RelationSheet2中的LED芯片的位置匹配，获得芯片的位置与参数

专利类型：发明专利

专利号：CN201010146190.X

专利申请（专利权）人：东莞华中科技大学制造工程研究院;东莞市华科制造工程研究院有限公司

专利发明（设计）人：吴涛;李斌;龚时华;黄禹;李海洲;王龙文;林康华

主权项：一种LED芯片全景扫描匹配方法，其特征在于：包括下列步骤：(1)检测设备对晶圆表面的LED芯片进行扫描并检测，获得每颗LED芯片的位置及对应的参数信息；具体包括：(11)预设所述检测设备的电机的移动步长为(StepX、StepY)，视块的规格尺寸固定，视块的长宽分别为X、Y，且X＝A*StepX，Y＝B*StepY，其中，A≥1，B≥1；(12)扫描并检测，移动电机，所述检测设备对所述晶圆表面的LED芯片进行扫描，并检测所述LED芯片的参数信息，记录每幅扫描的图像、所检测的LED芯片的参数信息与图像对应的

专利地区：广东