光盘非对称性的测试装置和方法专利登记公告

专利名称：光盘非对称性的测试装置和方法

摘要：一种光盘非对称性的测试装置与方法，该装置由该装置由RF信号读出系统、均衡器、比较电平发生器、第一比较器、高通滤波器、上半波提取器、下半波提取器、峰值保持器、谷值保持器、反向器、第一峰值探测器、第一谷值探测器、第二谷值探测器、第二峰值探测器和数据处理系统构成，所述的均衡器、比较电平发生器、第一比较器、高通滤波器、上半波提取器、下半波提取器、峰值保持器、谷值保持器、反向器、第一峰值探测器、第一谷值探测器、第二谷值探测器、第二峰值探测器可在一片可编程逻辑门阵列上实现，本发明具有原理简单，实现方便，可靠实用，能灵

专利类型：发明专利

专利号：CN201010148107.2

专利申请（专利权）人：中国科学院上海光学精密机械研究所

专利发明（设计）人：王国华;阮昊;李曹建

主权项：一种光盘非对称性的测试装置，特征在于该装置由RF信号读出系统(1)、均衡器(2)、比较电平发生器(3)、第一比较器(4)、高通滤波器(5)、上半波提取器(6)、下半波提取器(7)、峰值保持器(8)、谷值保持器(9)、反向器(10)、第一峰值探测器(11)、第一谷值探测器(12)、第二谷值探测器(13)、第二峰值探测器(14)和数据处理系统(15)构成，上述元部件的位置关系如下：①所述的RF信号读出系统(1)的输出端与所述的均衡器(2)的输入端相连，该均衡器(2)有六个输出端，分别连接所述的比较电平发生器(

专利地区：上海