超高频局部放电放电量监测采集方法、装置和系统专利登记公告
专利名称:超高频局部放电放电量监测采集方法、装置和系统
摘要:本发明公开了一种超高频局部放电放电量监测采集方法,该方法经过分析超高频局部放电的信号特征,通过扫描比较电平与局部放电信号进行电平比较,获取工频周期各相位区间超过比较电平的脉冲数,通过逐步提高比较电平,得到不同比较电平的脉冲数量,如无比较脉冲输出,则局部放电幅值小于该设置的比较电平,通过不同比较电平下的脉冲数值,可得到超高频局部放电信号的三维谱图,将常规的高速大容量数据采集变为高频的脉冲比较计数,简化了超高频局部放电监测电路,本发明的装置使用范围广,准确度较高,装置结构简单、体积不大,成本低廉,操作简单且便
专利类型:发明专利
专利号:CN201010157377.X
专利申请(专利权)人:重庆大学
专利发明(设计)人:杜林;李剑;王有元;唐炬;张晓星;姚陈果;米彦;颜梁钦
主权项:超高频局部放电放电量监测采集方法,其特征在于:包括以下步骤:1)脉冲采集:通过天线传感器探测电气设备的局部放电脉冲,将采集到的局部放电脉冲信号通过滤波单元进行预处理,再通过放大单元将局部放电脉冲信号放大后输入比较器;2)比较电平输入:确定一个比较电平,FPGA通过D/A转换电路将该比较电平转换成模拟信号输入至比较器中;3)脉冲比较并存储:将一个工频周期等分为多个相位区间,每个相位区间通过FPGA分配一个存储地址,FPGA通过外接工频参考相位波形进行触发,在每一个触发周期内,比较器将每一个相位区间内的局部放
专利地区:重庆
关于上述专利公告申明 : 上述专利公告转载自国家知识产权局网站专利公告栏目,不代表该专利由我公司代理取得,上述专利权利属于专利权人,未经(专利权人)许可,擅自商用是侵权行为。如您希望使用该专利,请搜索专利权人联系方式,获得专利权人的授权许可。