质量分析装置以及质量分析方法专利登记公告

专利名称：质量分析装置以及质量分析方法

摘要：本发明提供一种质量分析装置以及质量分析方法，实现排出效率高、质量分辨率高且排出能量低的线性阱，在导入由离子源生成的离子且具备具有入口、出口且施加有高频电压的四极杆电极的质量分析计中，利用在四极电场的中心轴上形成的阱电势来囚禁至少该离子的一部分，使囚禁的该离子的一部分向邻接的上述四极杆的中间方向振动，利用引出电场排出所振动的该离子，对所排出的该离子进行检测或导入其他检测处理。

专利类型：发明专利

专利号：CN201010163076.8

专利申请（专利权）人：株式会社日立制作所

专利发明（设计）人：桥本雄一郎;长谷川英树;马场崇;和气泉

主权项：一种质量分析方法，使用导入离子且具备四极杆电极的质量分析计，该四极杆电极具有该离子的入口、出口且施加有高频电压，其特征在于，利用在上述四极杆电极所产生的四极电场的中心轴上形成的阱电势来囚禁至少该离子的一部分；利用引出DC电场向上述四极杆电极的中心轴方向排出所囚禁的该离子；将从上述出口排出的该离子导入到检测处理。

专利地区：日本