用超导量子干涉器测量磁场并定位磁场电流源的方法专利登记公告

专利名称：用超导量子干涉器测量磁场并定位磁场电流源的方法

摘要：本发明涉及用超导量子干涉器测量磁场并定位磁场电流源的方法，该方法包括以下步骤：1)利用超导量子干涉器采集少量测点上的磁场信号；2)根据测量到的磁场信号求出每个时刻的磁场极大值和磁场极小值；3)计算机对步骤2)中求得的每个时刻的磁场极大值和磁场极小值处理后求出磁场源的位置和强度参数。与现有技术相比，本发明具有方法简单、有效，且可以大大节省硬件成本等优点。

专利类型：发明专利

专利号：CN201010580178.X

专利申请（专利权）人：同济大学

专利发明（设计）人：蒋式勤;石明伟;朱俊杰

主权项：用超导量子干涉器测量磁场并定位磁场电流源的方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：1)利用超导量子干涉器采集少量测点上的磁场信号；2)根据测量到的磁场信号求出每个时刻的磁场极大值和磁场极小值；3)计算机对步骤2)中求得的每个时刻的磁场极大值和磁场极小值处理后，求出磁场电流源的位置和强度参数。

专利地区：上海