或非门型快取存储器与其过抹除验证与修复方法专利登记公告

专利名称：或非门型快取存储器与其过抹除验证与修复方法

摘要：本发明公开了一种或非门型快取存储器与其过抹除验证与修复方法。该方法对该或非门型快取存储器上一扇区逐行分别施行一过抹除行验证，并对无法通过该过抹除行验证的行进行一过抹除行修复。此外，该方法更对无法通过该过抹除行修复通过该过抹除行验证的行逐位分别施行一过抹除位验证，并对无法通过该过抹除位验证的位进行一过抹除位修复。本发明实施例的或非门型快取存储器与其过抹除验证与修复方法，可以解决过抹除产生的漏电流问题。

专利类型：发明专利

专利号：CN201010584149.0

专利申请（专利权）人：华邦电子股份有限公司

专利发明（设计）人：黄仲盟;河壬喆

主权项：一种或非门型快取存储器过抹除验证与修复方法，其特征在于，包括：对一或非门型快取存储器上一扇区逐行分别施行一过抹除行验证，并对无法通过所述过抹除行验证的行进行一过抹除行修复；以及对于无法通过所述过抹除行修复通过所述过抹除行验证的行，逐位分别施行一过抹除位验证，并对无法通过所述过抹除位验证的位进行一过抹除位修复。

专利地区：台湾