一种基于二分法的故障测试向量的定位方法专利登记公告
专利名称:一种基于二分法的故障测试向量的定位方法
摘要:本发明公开了一种基于二分法的故障测试向量的定位方法,包括如下步骤:将测试向量加载到待测电路上,输出对应测试向量的特征序列值;通过响应压缩器得到期望特征序列值,并将其与实际测得的特征序列值作比较;如果两者结果不一致,说明此待测电路可能检测到某些故障点,并随后将上述测试向量集合大致相等地划分为第一子集合与第二子集合;将第一子集合作为新的测试对象,直到找到导致测试失败的第一个故障测试向量;整理未被定位的测试向量,将其作为一个全新的测试向量集合,重复以上步骤,直到所有的故障测试向量均被找到。本发明的定位方法对测试
专利类型:发明专利
专利号:CN201010587163.6
专利申请(专利权)人:苏州工业园区谱芯科技有限公司
专利发明(设计)人:唐飞
主权项:?一种基于二分法的故障测试向量的定位方法,其特征在于,包括如下步骤:S1:将待测电路连接到测试台;S2:配置测试向量生成器和响应压缩器的种子序列及测试向量的数目,以生成若干测试向量,所有的测试向量组成测试向量集合,用以对待测电路进行检测;S3:将测试向量加载到待测电路上,直到所有的测试向量测试完成;S4:输出步骤S3中对应测试向量的特征序列值;S5:通过响应压缩器得到期望特征序列值,并将其与步骤S4中实际测得的特征序列值作比较;S6:如果两者结果一致,说明此待测电路通过当前的测试向量集合的测试,未能够检测
专利地区:江苏
关于上述专利公告申明 : 上述专利公告转载自国家知识产权局网站专利公告栏目,不代表该专利由我公司代理取得,上述专利权利属于专利权人,未经(专利权人)许可,擅自商用是侵权行为。如您希望使用该专利,请搜索专利权人联系方式,获得专利权人的授权许可。