采用光纤束分光的垂直入射宽带光谱仪及光学测量系统专利登记公告
专利名称:采用光纤束分光的垂直入射宽带光谱仪及光学测量系统
摘要:本发明公开了一种采用光纤束分光的垂直入射宽带光谱仪及光学测量系统。该垂直入射宽带光谱仪包括:光源、光纤束、光探测器,光纤束包括入射光纤子束、出射光纤子束;入射光纤子束具有第一端口组和第二端口组,出射光纤子束具有第三端口组和第四端口组,入射光纤子束的第二端口组和出射光纤子束的第三端口组在同一横截面上。本发明垂直入射宽带光谱仪的光通量效率可达50%,远远高于传统的采用分光器的光谱仪。
专利类型:发明专利
专利号:CN201010593609.6
专利申请(专利权)人:北京智朗芯光科技有限公司
专利发明(设计)人:马铁中;刘涛;严晓浪;李国光;艾迪格·基尼欧
主权项:一种采用光纤束分光的垂直入射宽带光谱仪,其特征在于,包括:光源、光纤束、光探测器,所述光纤束包括入射光纤子束、出射光纤子束,所述入射光纤子束和所述出射光纤子束均包含至少一根光纤或光纤芯;所述入射光纤子束具有第一端口组和第二端口组,所述出射光纤子束具有第三端口组和第四端口组,所述入射光纤子束的第二端口组和所述出射光纤子束的第三端口组在同一横截面上;所述入射光纤子束,用于引导从所述第一端口组入射的所述光源发射的探测光,从所述第二端口组出射,入射样品表面;所述出射光纤子束,用于引导从所述第三端口组入射的所述探测
专利地区:北京
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