检测电路延时和时序的方法及采用该方法校准延时的方法专利登记公告

专利名称：检测电路延时和时序的方法及采用该方法校准延时的方法

摘要：本发明公开了一种检测电路延时和时序的方法，其包含如下步骤：1)将主时序信号和待检测的延时时序信号进行逻辑与操作，产生测试时序信号；2)对所述测试时序信号的延时边沿进行计数，并根据主时序信号的下降沿和第一个计数器产生计数使能信号，所述计数使能信号用于驱动逻辑电路分时进行采用计数值，分析计数值并判断；3)采用以下标准进行判断，当计数值大于等于固定周期时，判断时序正确；小于固定周期时，时序错误；4)变换主时序信号的周期，重复操作步骤1)至3)，进行多次逼近找到时序正确和时序错误的临界点，该临界点所对应的周期即为

专利类型：发明专利

专利号：CN201010600544.3

专利申请（专利权）人：上海华虹NEC电子有限公司

专利发明（设计）人：董乔华

主权项：一种检测电路延时和时序的方法，其特征在于，包含如下步骤：1)将主时序信号和待检测的延时时序信号进行逻辑与操作，产生测试时序信号；2)利用第二计数器对所述测试时序信号的延时边沿进行计数，同时根据主时序信号的下降沿和第一个计数器产生使能信号，所述使能信号用于驱动逻辑电路分时进行采样计数值，分析计数值并进行判断，所述计数使能信号的高电平时长为所述主时序信号的固定周期；3)采用以下标准对计数结果进行判断，当计数值大于或等于所述固定周期时，判断时序正确；当计数值小于所述固定周期时，判断时序错误，其中时序正确表示延时

专利地区：上海