激光光斑动态测量方法及测量仪专利登记公告

专利名称：激光光斑动态测量方法及测量仪

摘要：本发明提供激光光斑动态测量方法及测量仪，其中，测量方法包括下列步骤：1)CCD各像素分别探测所接收到的光强；2)将各像素探测到的光强数据记为矩阵I；基于激光光斑光强分布公式，根据实测的光强数据矩阵I及相应各像素的横纵轴坐标值，利用线性最小二乘法得出σx，σy，xc，yc，A和I0；其中，xc与yc分别为光斑中心的横纵轴坐标值，σx与σy分别为横纵轴1/e半径，A为幅度，I0为暗噪声；4)通过牛顿迭代法得出参数向量P(k)的修正向量D，计算P(k+1)＝P(k)+D；5)重复执行步骤4)，直至迭代次数达到预

专利类型：发明专利

专利号：CN201010606548.2

专利申请（专利权）人：中国科学院物理研究所

专利发明（设计）人：曹强;王如泉

主权项：一种激光光斑动态测量方法，包括下列步骤：1)将激光光束照射到CCD上，CCD各像素分别探测所接收到的光强；2)将CCD各像素探测到的光强数据记为矩阵I；基于激光光斑光强分布公式根据实测的光强数据矩阵I及相应各像素的横纵轴坐标值，利用线性最小二乘法得出σx，σy，xc，yc，A和I0；激光光斑光强分布公式中，I为激光光斑光强变量，x与y为光斑的横纵轴坐标变量，xc与yc分别为光斑中心的横纵轴坐标值，σx与σy分别为横纵轴1/e半径，A为幅度，I0为暗噪声；3)将步骤2)得出的σx，σy，xc，yc，A，I0

专利地区：北京