一种用于物联网的中近场测量系统及方法专利登记公告

专利名称：一种用于物联网的中近场测量系统及方法

摘要：本发明提供了一种用于物联网的中近场测量系统及方法。该测量系统包括：电磁场测量装置，测量一测量空间中的一测量位置及测量方向上的中近场的电场和/或磁场的幅度值和相位值；位置遍历装置，改变电磁场测量装置的测量位置及测量方向，以遍历测量空间；控制装置，控制位置遍历装置的移动及电磁场测量装置的测量。通过上述方式，利用位置遍历装置遍历测量空间，可以获取测量空间中任意一点的中近场在多个方向上的电场和/或磁场的幅度值和相位值，具有使用灵活、应用范围广的优点。

专利类型：发明专利

专利号：CN201010607328.1

专利申请（专利权）人：深圳光启高等理工研究院

专利发明（设计）人：刘若鹏;徐冠雄;杨松涛;何振明;王今金;赖少祥;李岳峰;廖臻;陈智超;石小红

主权项：一种用于物联网的中近场测量系统，其特征在于，包括：电磁场测量装置，测量一测量空间中的一测量位置及测量方向上的中近场的电场和/或磁场的幅度值和相位值；位置遍历装置，改变所述电磁场测量装置的所述测量位置及所述测量方向，以遍历所述测量空间；控制装置，控制所述位置遍历装置的移动及所述电磁场测量装置的测量。

专利地区：广东