测定液晶参数的方法及装置专利登记公告

专利名称：测定液晶参数的方法及装置

摘要：一种测定液晶参数的装置和方法，其藉由一第一电控控制器来调制一线偏光产生器产生不同方位角的线偏光，以及一第二电控控制器来调制一偏光分析器。此线偏光产生器接收一光源的入射光并取出多个入射线偏光，而其所产生的不同方位角的线偏光是由此第一电控控制器所调制，使线偏光以所设定的倾斜角度投射至一待测样品，而穿透此待测样品的透射光由此偏光分析器所接收。此第二电控控制器连接至此偏光分析器，以取出一特定的偏光强度再经由置于一后端的数据处理装置接收来自此偏光分析器取出的偏光数据后，藉由一切层理论模型，求解出至少一液晶光学参数。

专利类型：发明专利

专利号：CN201010610643.X

专利申请（专利权）人：财团法人工业技术研究院

专利发明（设计）人：江直融;刘志祥

主权项：一种测定液晶参数的装置，包含：一线偏光产生器，接收一光源的入射光并自该光源取出多个入射线偏光；一第一电控控制器，连接至该线偏光产生器以调制该线偏光产生器产生不同方位角的该线偏光；一待测样品，其中心方向轴线与该线偏光形成一倾斜夹角；一偏光分析器，接收来自穿透该待测样品的透射光；一第二电控控制器，连接至该偏光分析器以调制该偏光分析器，以取出一特定的偏光强度；以及一数据处理装置，置于一后端，接收来自该偏光分析器的取出的偏光数据，藉由一切层理论模型，求解出至少一液晶光学参数。

专利地区：台湾