一种光电成像系统性能评估实验分析方法专利登记公告

专利名称：一种光电成像系统性能评估实验分析方法

摘要：本发明涉及一种光电成像系统性能评估实验分析方法，包括以下步骤：建立光电成像系统性能预测模型；在性能预测模型中划分输入因素集和输出指标集；对输入因素集进行筛选实验；根据筛选实验结果划分模型输入因素水平，建立模型输入因素水平表；根据模型输入因素水平表，选取正交表，形成实验方案；调用性能预测模型计算各实验方案对应的输出指标集；利用输出指标集进行极差分析和灵敏度分析，结束本次实验分析过程。本发明方法可以以最少的实验次数全面、典型、均衡可比的反映实验输入各因素对实验指标的影响，通过极差法分析确定各输入因素的最优水平

专利类型：发明专利

专利号：CN201010610980.9

专利申请（专利权）人：中国科学院沈阳自动化研究所

专利发明（设计）人：赵怀慈;刘海峥;郝明国;花海洋;王立勇

主权项：一种光电成像系统性能评估实验分析方法，其特征在于包括以下步骤：建立光电成像系统性能预测模型；在性能预测模型中划分输入因素集和输出指标集；对输入因素集进行筛选实验；根据筛选实验结果划分模型输入因素水平，建立模型输入因素水平表；根据模型输入因素水平表，选取正交表，形成实验方案；调用性能预测模型计算各实验方案对应的输出指标集；利用输出指标集进行极差分析和灵敏度分析，结束本次实验分析过程。

专利地区：辽宁