微处理器的测试方法及测试装置专利登记公告

专利名称：微处理器的测试方法及测试装置

摘要：一种微处理器的测试方法，包括：执行初始化操作，建立分支状态登记表，所述分支状态登记表包括分支索引号和分支当前状态；扫描出测试程序的所有条件跳转分支，对所述分支状态登记表赋值；依据选定的遍历策略动态修改所述分支状态登记表中的所述分支当前状态，根据所述分支当前状态对所有条件跳转分支进行遍历；若未完成对所有条件跳转分支的遍历，则返回所述测试程序入口，继续依据所述遍历策略动态修改所述分支状态登记表中的分支当前状态，根据所述分支当前状态对所有条件跳转分支进行遍历；若完成对所有条件跳转分支的遍历，则退出所述测试程序。

专利类型：发明专利

专利号：CN201010612480.9

专利申请（专利权）人：无锡江南计算技术研究所

专利发明（设计）人：李岱峰;王丽一;唐大国;漆锋滨;王俊

主权项：一种微处理器的测试方法，其特征在于，包括：执行初始化操作，包括建立分支状态登记表，所述分支状态登记表包括分支索引号和分支当前状态，所述分支索引号用于使测试程序中的条件跳转分支对应于所述分支状态登记表以获取所述分支当前状态；所述分支当前状态，其状态位的改变决定该条件跳转分支成功跳转与否；扫描出测试程序的所有条件跳转分支，对所述分支状态登记表赋值；依据选定的遍历策略动态修改所述分支状态登记表中的分支当前状态，并根据所述分支当前状态对所有条件跳转分支进行遍历；若未完成对所有条件跳转分支的遍历，则返回所述测试程序

专利地区：江苏