金属异物检测机中的自动相位跟踪信息处理方法及装置专利登记公告

专利名称：金属异物检测机中的自动相位跟踪信息处理方法及装置

摘要：本发明涉及一种金属异物检测机中的自动相位跟踪信息处理方法及装置，其中方法包括1)相位设定完毕后，实时相位计算模块将A/D采样电路发过来的接收相位φ0作为初始值；2)接收电路判断是否有产品通过，若为否，执行步骤3)，若为是，不采集接收相位等步骤；其中装置包括接收电路、滤波电路、A/D采样电路、实时相位计算模块、FPGA、DSP、MCU、相位跟踪控制器、D/A转换模块、发射电路。与现有技术相比，本发明具有提高了相位的分辨率和检测实时性等优点。

专利类型：发明专利

专利号：CN201010617342.X

专利申请（专利权）人：上海太易检测技术有限公司

专利发明（设计）人：项安;张波;幸波

主权项：一种金属异物检测机中的自动相位跟踪信息处理方法，其特征在于，包括以下步骤：1)相位设定完毕后，实时相位计算模块将A/D采样电路发过来的接收相位φ0作为初始值；2)接收电路判断是否有产品通过，若为否，执行步骤3)，若为是，不采集接收相位；3)A/D采样电路实时采集接收电路的接收相位φ1信息，将该接收相位φ1信息传输给实时相位计算模块；4)实时相位计算模块比较φ1与φ0的相位差，并判断该相位差是否超过预设范围，若为是，发送“发射相位微调”信息给FPGA，若为否，返回步骤2)；5)FPGA将“发射相位微调”指令

专利地区：上海