一种通过载波平滑进行伪距观测量估计的方法和装置专利登记公告

专利名称：一种通过载波平滑进行伪距观测量估计的方法和装置

摘要：本发明提供了一种通过载波平滑进行伪距观测量估计的方法和装置；方法包括：分别获取n个频点的伪距和载波相位观测量；n为大于或等于2的整数；分别在各频点同时进行载波平滑伪距操作，得到平滑后的伪距；将多个频点的平滑后的伪距组成量测方程；根据量测方程进行估值，将所得到的r的估值作为伪距观测量估计值。本发明在大为降低的多径和测量噪声基础上，剔除了电离层的影响，从而显著提高伪距的估计精度。

专利类型：发明专利

专利号：CN201010619774.4

专利申请（专利权）人：和芯星通科技（北京）有限公司

专利发明（设计）人：邱剑宁;韩绍伟;莫钧

主权项：一种通过载波平滑进行伪距观测量估计的方法，包括：分别获取n个频点的伪距和载波相位观测量；n为大于或等于2的整数；分别在各频点同时进行载波平滑伪距操作，得到平滑后的伪距；将多个频点的平滑后的伪距组成量测方程：Z＝HX+V；其中： Z =

专利地区：北京