用于痕量探测仪的进样装置以及具有该进样装置的痕量探测仪专利登记公告

专利名称：用于痕量探测仪的进样装置以及具有该进样装置的痕量探测仪

摘要：本发明提供了一种用于痕量探测仪的进样装置，该包括：设置在进样装置中的用于使样品从进样件脱附的进样室；以及用于在进样时使进样室与痕量探测仪的迁移管流体连通的阀门组件。本发明通过采用上述结构，例如，可以通过提高样品的透过率，增加检测装置的灵敏度。同时实现了迁移管内部环境与外界环境隔离，避免迁移区被污染，能够保持仪器的灵敏度、物质峰峰位、分辨率等重要参数不变，从而实现仪器的稳定、一致性。

专利类型：发明专利

专利号：CN201010619932.6

专利申请（专利权）人：同方威视技术股份有限公司;清华大学

专利发明（设计）人：李元景;陈志强;张清军;毛绍基;赵自然;刘以农;曹士娉;郑严;常建平;邹湘

主权项：一种用于痕量探测仪的进样装置，包括：设置在进样装置中的用于使样品从进样件脱附的进样室；以及用于在进样时使进样室与痕量探测仪的迁移管流体连通的阀门组件。

专利地区：北京