模拟发光二极管光源混光状态的检测方法专利登记公告
专利名称:模拟发光二极管光源混光状态的检测方法
摘要:一种模拟发光二极管LED光源混光状态的检测方法,在无扩散片的状态下对多个LED灯条所包含的多个LED单元共同撷取一共同检测图像;检测共同检测图像中各LED单元的一坐标与对应该坐标的一光强度数据;将一标准扩散光场场型套用于各LED单元,以计算出各LED单元的一光扩散状态模拟图像;通过该些光扩散状态模拟图像,计算出各LED灯条的一混光状态光强度数据。
专利类型:发明专利
专利号:CN201010623958.8
专利申请(专利权)人:致茂电子(苏州)有限公司
专利发明(设计)人:翁义龙;杨欣泰;李明翰
主权项:一种模拟发光二极管LED光源混光状态的检测方法,应用于同时检测多个LED单元,并获取各LED单元的一混光状态模拟图像,其特征在于,该模拟LED光源混光状态的检测方法包含下列步骤:(a)通过至少一扩散片对该些LED单元中的至少一个单独撷取一扩散光场场型;(b)将该扩散光场场型正规化为一标准扩散光场场型;(c)对该些LED单元共同撷取一共同检测图像;(d)检测该共同检测图像中各LED单元的一坐标与对应该坐标的一光强度数据;以及根据各LED单元的坐标与所对应的光强度数据,将该标准扩散光场场型套用于各LED单元,
专利地区:江苏
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