电子组件高温老化智能检测系统专利登记公告

专利名称：电子组件高温老化智能检测系统

摘要：本实用新型涉及一种检测系统，特别涉及一种电子组件高温老化智能检测系统。为实现上述目的，本实用新型提供了如下技术方案：一种电子组件高温老化智能检测系统，包括有多个老化柜及与各老化柜联通的PC机，所述的各老化柜内分别设有与PC机构成信号传输的控制系统，控制系统包括有主MCU及与主MCU连接的多个从MCU，各从MCU分别与各自独立用于放置电子组件的承载板电连接，主MCU的输入端与各从MCU的输出端连接，主MCU的输出端与PC机连接。通过采用上述技术方案，提供了一种集高温加电老化、在线检测、数据统计为一体的电子组件板高温老化智能检测系统。??

专利类型：实用新型专利

专利号：CN201020574804.X

专利申请（专利权）人：温州大学

专利发明（设计）人：赵升;谢文彬;叶鹏

主权项：一种电子组件高温老化智能检测系统，其特征在于：包括有多个老化柜及与各老化柜联通的PC机，所述的各老化柜内分别设有与PC机构成信号传输的控制系统，控制系统包括有主MCU及与主MCU连接的多个从MCU，各从MCU分别与各自独立用于放置电子组件的承载板电连接，主MCU的输入端与各从MCU的输出端连接，主MCU的输出端与PC机连接。

专利地区：浙江