半导体性能测试架专利登记公告

专利名称：半导体性能测试架

摘要：本实用新型涉及半导体生产技术领域的工具，特别是一种半导体性能测试架。其包括测试架本体，其特征是：所述的测试架本体有一个底座，底座上有一个立杆，立杆上具有一个伸出结构，伸出结构上连接有上接触盘，在底座上还有一个和上接触盘对应的下接触盘。进一步的讲，所述的下接触盘上还具有一个半导体加热件。这样的半导体性能测试架具有使用方便，测试效率高的优点。

专利类型：实用新型专利

专利号：CN201020578497.2

专利申请（专利权）人：河南久大电子电器有限公司

专利发明（设计）人：张志辉;宋暖;欧阳进民

主权项：半导体性能测试架，包括测试架本体，其特征是：所述的测试架本体有一个底座，底座上有一个立杆，立杆上具有一个伸出结构，伸出结构上连接有上接触盘，在底座上还有一个和上接触盘对应的下接触盘。

专利地区：河南