用于测试高压大电流产品的探针专利登记公告

专利名称：用于测试高压大电流产品的探针

摘要：本实用新型公开了一种用于测试高压大电流产品的探针，包括探针臂和位于探针臂前部的探针头，所述探针为一根，探针头的前端设置有至少两个通过高压大电流的探针尖；探针尖为尖状或圆锥状；探针臂的截面形状为圆形、椭圆形或矩形。本实用新型在一根探针的探针头上设置至少两个探针尖，使得扎针时探针能够同芯片pad充分接触，并且可以承受高压及大电流通过，避免了因接触不良等因素引起放电打火进而烧毁芯片或探针甚至测试仪硬件的情况发生。

专利类型：实用新型专利

专利号：CN201020615317.3

专利申请（专利权）人：上海华虹NEC电子有限公司

专利发明（设计）人：谢晋春;辛吉升

主权项：一种用于测试高压大电流产品的探针，包括探针臂、位于探针臂前部的探针头，其特征在于：所述探针为一根，探针头的前端设置有至少两个通过高压大电流的探针尖。

专利地区：上海