利用偏移探测器几何结构生成计算断层摄影图像的方法和设备专利登记公告

专利名称：利用偏移探测器几何结构生成计算断层摄影图像的方法和设备

摘要：根据本发明的一个方面，提供了一种利用具有偏移探测器几何结构的CT成像装置生成完整定位扫描的方法和设备。根据本发明的另一方面，提供了一种为具有偏移探测器几何结构的CT成像装置增大可重建视场的方法和设备。根据本发明的另一方面，提供了一种利用具有偏移探测器几何结构的CT成像装置进行感兴趣区域图像重建和整个身体成像的方法和设备。根据本发明的另一方面，提供了一种组合式x射线和SPECT成像系统。

专利类型：发明专利

专利号：CN201080034354.8

专利申请（专利权）人：皇家飞利浦电子股份有限公司

专利发明（设计）人：D·索厄德斯-埃梅德;C·诺尔特曼;E·汉西斯;M·格拉斯

主权项：一种利用具有探测器(104)的成像设备(200)生成对象(108)的图像的方法，包括如下步骤：利用与旋转中心(114)偏移开、处于第一偏移位置的所述探测器(104)收集关于所述对象(108)的第一成像数据；将所述探测器(104)移位到与所述旋转中心(114)偏移开的第二位置，其中，所述第二偏移位置与所述第一偏移位置不同；利用处于所述第二偏移位置的所述探测器(104)收集关于所述对象(108)的第二成像数据；以及使用所述第一成像数据和所述第二成像数据重建所述对象(108)的图像。

专利地区：荷兰