处理室的清洁专利登记公告

专利名称：处理室的清洁

摘要：一种利用清洁气体清洁在等离子处理室内部区域中配置的至少一个组件的方法，所述清洁气体包括氟气，其中所述处理室具有至少一个电极和对应电极来生成等离子体用于等离子体处理，特别是用于对表面积大于1m2的平面基底进行CVD-或者PECVD-处理，其特征在于，用分压大于5mbar的气态氟化合物冲击内部区域。在另一种利用清洁气体清洁在处理室内部区域中配置的至少一个组件的表面的方法V中，所述清洁气体为氟气，其中所述处理室设置有至少一个电极和对应电极用于生成等离子体，特别是用于对表面积大于1m2的平面基底进行CVD-或者P

专利类型：发明专利

专利号：CN201080036325.5

专利申请（专利权）人：莱博德光学有限责任公司

专利发明（设计）人：R·贝克曼;M·格斯勒;H·罗斯特

主权项：一种利用清洁气体冲击来清洁在处理室内部区域中配置的至少一个组件的表面的方法，所述清洁气体包括氟气，其中所述处理室具有至少一个电极和对应电极来生成等离子体，所述等离子体用于对基底进行等离子体处理，特别是用于对表面积大于1m2的平面基底进行CVD?或者PECVD?处理，其特征在于，?用总?分压大于5mbar的氟气或气态氟化合物冲击待清洁的组件；和/或?热活化氟气或气态氟化合物；以及加热待清洁组件至温度＜350℃。

专利地区：德国