用于获得第一信号进行分析以便表征该第一信号的至少一个周期性分量的方法和系统专利登记公告

专利名称：用于获得第一信号进行分析以便表征该第一信号的至少一个周期性分量的方法和系统

摘要：本发明涉及一种促进获得第一信号（42；50a-n）进行分析以便表征该第一信号的至少一个周期性分量的方法，所述方法包括：获得代表所捕获的电磁辐射的强度的至少两个第二信号（18-20），其中每一个第二信号与相应的不同辐射频率范围相对应。第一信号（42；50a-n）至少可以从通过对第二信号（18-20；55-57）应用变换（22，26，30）而获得的输出信号（31）导出，从而使得输出信号（31）的任何值是基于来自对应时间点处的每一个相应的第二信号（18-20；55-57）的值。所述方法还包括在捕获对应于第二信号

专利类型：发明专利

专利号：CN201080045245.6

专利申请（专利权）人：皇家飞利浦电子股份有限公司

专利发明（设计）人：I.O.基伦科;V.珍妮;G.德哈安;A.J.范里斯特

主权项：促进获得第一信号（42；50a?n；76）进行分析以便表征该第一信号的至少一个周期性分量的方法，所述方法包括：获得代表所捕获的电磁辐射的强度的至少两个第二信号（18?20；55?57），其中每一个第二信号与相应的不同辐射频率范围相对应，第一信号（42；50a?n；76）至少可以从通过对第二信号（18?20；55?57）应用变换（22，26，30；59，63，67，71）而获得的输出信号（31；72）导出，从而使得输出信号（31；72）的任何值是基于来自对应时间点处的每一个相应的第二信号（18?20；55?

专利地区：荷兰