用于处理源自电离辐射检测器的数据的方法专利登记公告

专利名称：用于处理源自电离辐射检测器的数据的方法

摘要：本发明涉及用于处理源自电离辐射检测器的数据的方法。在直方图中使通过半导体检测器上的电离辐射的影响所获得的电荷的测量分组。校准和所获得的数据用于获得测量的接受概率，其用于通过加权测量来构建事件的直方图，以排除一些因素(诸如扩散辐射)的影响或者相反地增强该影响。

专利类型：发明专利

专利号：CN201080045285.0

专利申请（专利权）人：法国原子能及替代能源委员会

专利发明（设计）人：纪尧姆·蒙泰蒙特;托马斯·博尔迪;埃里克·格罗·达永

主权项：一种用于处理源自电磁或电离辐射的半导体检测器的数据的方法，所述检测器具有至少两个偏振电极，所述至少两个偏振电极在所述检测器的所述辐射的交互的影响下产生电信号，每个交互都能够基于对电信号的测量通过至少一个参数来表征，以确定事件的直方图，所述方法包括确定一组接受概率以及根据所述接受概率校正事件的直方图，其特征在于，通过双重校准来获得所述一组接受概率，其中，所述检测器被照射有关于事件的可接受标准不同的辐射。

专利地区：法国