适合于谱分析的测量元件专利登记公告

专利名称：适合于谱分析的测量元件

摘要：本发明提供一种适合于气体样品的谱分析的测量元件(1)，其中该测量元件被设计成和适合于，通过所发射光束从指派给测量元件内腔的多个反射面(M1-M6)的多次反射，将从产生红外光的装置(4)发射的会聚光束和/或发散光束在朝向接收红外光的装置(5)的方向上调节，从而允许在测量元件(1)的内腔(1c)中建立预定的、从产生红外光的装置(4)到接收红外光的装置(5)的测量距离(“L”)。所述测量元件的内腔(1c)适合于包含旨在用于光谱分析吸收测量的气体样品(“G”)，此外，来自产生红外光的装置(4)的光束通过反射面(M

专利类型：发明专利

专利号：CN201080045458.9

专利申请（专利权）人：森谢尔公司

专利发明（设计）人：汉斯·马丁

主权项：一种测量元件，可适合于气体样品的谱分析并且具有用于与载体电气配合和机械配合的装置，所述载体为例如具有印刷布线的板卡；其中所述测量元件被设计成和适合于，通过允许利用自产生光的装置发射的光束从指派给所述测量元件的内腔的多个反射面的多次反射，允许将所述发射的光束在朝向接收光的装置的方向上调节，从而允许在所述测量元件的内腔中建立预定的光学测量距离，例如从所述产生光的装置到所述接收光的装置的光学测量距离；并且其中所述测量元件的内腔适合于允许包含旨在用于光谱分析吸收测量的所述气体样品，并且其中所述测量元件的内腔及所述

专利地区：瑞典