用于测量电容的系统与方法专利登记公告

专利名称：用于测量电容的系统与方法

摘要：本发明涉及用于测试连接到驱动电路的输出引脚的负载电路的电容的系统与方法。在一种实施方式中，该方法可以包括将所述输出引脚处的电压驱动至第一电压；将预定的电流施加到所述输出引脚；将所述输出引脚处的电压与参考电压进行比较；并且，当所述输出引脚处的电压与所述参考电压匹配时，基于在计时电压变化周期开始与所述输出引脚处的电压与所述参考电压匹配的时刻之间出现的时钟循环数量来生成对在所述输出引脚处存在的电容的估计结果。

专利类型：发明专利

专利号：CN201080045900.8

专利申请（专利权）人：美国亚德诺半导体公司

专利发明（设计）人：S·伊利亚特;M·莫菲

主权项：一种用于测试连接到驱动电路的输出引脚的负载电路的电容的方法，所述方法包括：将所述输出引脚处的电压驱动至第一电压；将预定的电流施加到所述输出引脚；将所述输出引脚处的电压与参考电压进行比较；以及当所述输出引脚处的电压与所述参考电压匹配时，基于在计时电压变化周期的开始与所述输出引脚处的电压和所述参考电压匹配的时刻之间出现的时钟循环的数量，来生成对在所述输出引脚处存在的电容的估计结果。

专利地区：美国