通过跟踪探针活动水平来控制性能状态专利登记公告

专利名称：通过跟踪探针活动水平来控制性能状态

摘要：处理节点跟踪与其内部高速缓存或存储器系统相关联的探针活动水平。如果探针活动水平提高至阈值探针活动水平以上，则处理节点的性能状态提高至其当前性能状态以上以响应于探针请求而提供增强的性能能力。在响应于探针活动水平处于阈值探针活动水平以上而进入较高性能状态之后，处理节点响应于探针活动的减弱而返回至较低性能状态。可存在多个阈值探针活动水平及相关联的性能状态。

专利类型：发明专利

专利号：CN201080048873.X

专利申请（专利权）人：超威半导体公司

专利发明（设计）人：亚历山大·布兰欧威;莫里斯·B·斯坦曼;乔纳森·D·奥克;乔纳森·M·欧文

主权项：一种方法，其包括：跟踪处理节点中的探针活动水平；将所述探针活动水平与第一阈值探针活动水平进行比较；以及如果所述探针活动水平在所述第一阈值探针活动水平以上，将所述处理节点的性能状态提高至比当前性能状态高的第一性能状态。

专利地区：美国