用于启用并行测试的计算装置专利登记公告

专利名称：用于启用并行测试的计算装置

摘要：本发明描述一种用于启用并行测试的方法。所述方法包括在计算装置上产生多个测试对象。所述多个测试对象是使用基于基本测试类的衍生类来产生且所述多个测试对象中的每一者对应于被测装置DUT中的单独块。所述方法还包括将所述多个测试对象添加到队列及将基于所述多个测试对象的信息发送到自动测试设备ATE。所述方法还包括使所述ATE使用所述多个测试对象并行地测试所述DUT中的所述单独块。

专利类型：发明专利

专利号：CN201080049869.5

专利申请（专利权）人：高通股份有限公司;爱德万测试(新加坡)私人有限公司

专利发明（设计）人：古斯塔沃·哈维尔·里韦拉·特雷维尼奥;迈克尔·G·巴克;凯利·琼斯

主权项：一种用于启用并行测试的方法，其包含：在计算装置上产生多个测试对象，其中：所述多个测试对象是使用基于基本测试类的衍生类来产生；且所述多个测试对象中的每一者对应于被测装置DUT中的单独块；在所述计算装置上将所述多个测试对象添加到队列；将基于所述多个测试对象的信息发送到自动测试设备ATE；及使所述ATE使用所述多个测试对象并行地测试所述DUT中的所述单独块。

专利地区：美国