检测稀介质中的物质专利登记公告

专利名称：检测稀介质中的物质

摘要：本发明公开了用于检测稀介质中的物质的方法和设备（10），所述物质具有光谱特征，所述设备包括：光束源（20），其布置用于产生彼此相干并具有匹配的啁啾模式的第一激光束和第二激光束；光束引导器，其布置用于使至少所述第一激光束穿过所述稀介质；光束混合器，其布置用于将所述第一激光束和所述第二激光束混合以形成混合光束；检测器（80），其布置用于在所述啁啾模式期间检测所述混合光束，并测量由光谱特征上所述稀介质的折射率变化引起的所述混合光束的改变；输出器，其提供响应于测量到的改变而改变的信号。

专利类型：发明专利

专利号：CN201080050338.8

专利申请（专利权）人：科学技术设备委员会;普林斯顿大学保管委员会

专利发明（设计）人：达米安·魏德曼;G·威索基

主权项：一种检测稀介质中的物质的方法，所述方法包括：提供彼此相干并具有匹配的啁啾模式的第一激光束和第二激光束；使至少所述第一激光束穿过所述稀介质，同时所述第一激光束的所述啁啾模式与所述物质的光谱特征的至少一部分交叉；将所述第一激光束和所述第二激光束混合以形成混合光束；在所述啁啾模式期间检测所述混合光束以形成输出信号；处理所述输出信号，以测量由在整个所述光谱特征上所述稀介质的折射率变化引起的所述混合光束的改变；以及根据测量到的属性的改变确定测量到所述物质。

专利地区：英国