带复合自校正功能的角度检测器专利登记公告

专利名称：带复合自校正功能的角度检测器

摘要：将传感器头的个数抑制到最少，并且获得到高次分量为止没有频率分量的遗漏的高精度的校正值。一种带自校正功能的角度检测器，在固定于旋转轴的刻度盘的周围具备刻度读取用的传感器头，由在相同刻度盘的周围等间隔地配置的第1传感器头、以及在该第1传感器头的1个位置替换第1传感器头而配置的第2传感器头构成，通过求出第2传感器头与各第1传感器头的测量差并获得平均值来进行自校正，用将第1传感器头以及第2传感器头等间隔地配置了L个的第1组、以及等间隔地配置了M个的第2组进行校正，当设置在刻度盘上的全部刻度的数量设为P时，使通过第

专利类型：发明专利

专利号：CN201080050382.9

专利申请（专利权）人：独立行政法人产业技术综合研究所

专利发明（设计）人：渡部司

主权项：一种带自校正功能的角度检测器，在固定于旋转轴的刻度盘的周围具备刻度读取用的传感器头，由在相同刻度盘的周围等间隔地配置的第1传感器头、以及在该第1传感器头的1个位置替换第1传感器头而配置的第2传感器头构成，通过求出前述第2传感器头与各第1传感器头的测量差并获得平均值来进行自校正，该带自校正功能的角度检测器的特征在于，前述第1传感器头以及第2传感器头由等间隔地配置了L个的第1组、以及等间隔地配置了M个的第2组构成，该带自校正功能的角度检测器具备：相移单元，当将设置在前述刻度盘上的全刻度的数量设为P时，使通过前

专利地区：日本