用于球栅阵列器件的对准与检查的系统和方法专利登记公告

专利名称：用于球栅阵列器件的对准与检查的系统和方法

摘要：提供了用于高速地对准并检查具有非均匀特征的部件(比如BGA器件)的系统和方法。在机器视觉系统的训练期间，少量的对准效果显著的团块连同用于挑选粒度的一定量的几何分析一起被确定。此外，在训练期间，多个球可以与多个组相关联，每一个组可以具有其自己的一组检查参数。

专利类型：发明专利

专利号：CN201080050575.4

专利申请（专利权）人：考戈奈克斯股份有限公司

专利发明（设计）人：X·王;L·王

主权项：一种用于对准球栅阵列器件的方法，所述方法包括：从所述器件的几何模型中提取一个或多个团块；识别一个或多个对准效果显著的团块；以及使用所述对准效果显著的团块来产生对准掩模。

专利地区：美国